廣東zeta電位及納米粒度儀處理方法

        Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：動態(tài)光散射儀（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；檢測范圍：粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍0.3nm–10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（Gaussian）單峰算法的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個(gè)電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶節(jié)省檢測成本。即使沒有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。廣東zeta電位及納米粒度儀處理方法

      Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。廣東怎樣選擇zeta電位及納米粒度儀設(shè)備技術(shù)優(yōu)勢：9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求。

小知識——光電倍增管（PMT)光電倍增管（Photomultiplier，簡稱PMT），是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進(jìn)入的微弱光信號增強(qiáng)至原本的108倍，使光信號能被測量。小知識——光電二極管（APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置，其內(nèi)包含光電陰極(photocathode)，幾個(gè)二次發(fā)射極(dynode)和一個(gè)陽極。入射光子撞擊光電陰極，產(chǎn)生光電效應(yīng)，產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管，電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個(gè)二次電子，通常每個(gè)二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般，經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使得電子倍增，然后到達(dá)陽極。一般光電倍增管的二次發(fā)射極是分離式的，而電子倍增管的二次發(fā)射極是連續(xù)式的。

動態(tài)光散射理論：粒子的擴(kuò)散效應(yīng)：懸浮的粒子并不是靜止不動的，相反，他們以布朗運(yùn)動（Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運(yùn)動，布朗運(yùn)動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此，到達(dá)PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無規(guī)則波動，這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無規(guī)則波動。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起，在檢測器中檢測到的光強(qiáng)值就會隨時(shí)間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化，進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動，于是這些波動在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來。 DLS測量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個(gè)概念，我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的，具有相同的擴(kuò)散系數(shù)（diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運(yùn)動的快，將會導(dǎo)致光強(qiáng)波動信號變化很快；而相反地，大粒子擴(kuò)散地畢竟慢，導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢。技術(shù)優(yōu)勢：1、PMT高靈敏度檢測器。

Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán)。常見zeta電位及納米粒度儀應(yīng)用范圍

技術(shù)優(yōu)勢：11、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級； （1）可自動稀釋模塊（選配）。廣東zeta電位及納米粒度儀處理方法

動態(tài)光散射理論：粒子的擴(kuò)散效應(yīng)：懸浮的粒子并不是靜止不動的，相反，他們以布朗運(yùn)動（Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運(yùn)動，布朗運(yùn)動主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此，到達(dá)PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無規(guī)則波動，這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無規(guī)則波動。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起，在檢測器中檢測到的光強(qiáng)值就會隨時(shí)間而不斷波動。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化，進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動，于是這些波動在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來。 DLS測量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡化這個(gè)概念，我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的，具有相同的擴(kuò)散系數(shù)（diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運(yùn)動的快，將會導(dǎo)致光強(qiáng)波動信號變化很快；而相反地，大粒子擴(kuò)散地畢竟慢，導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢。 廣東zeta電位及納米粒度儀處理方法