平行光管光電測試系統(tǒng)品牌

TCB系列黑體是差分面源黑體，旨在模擬低溫和適宜的常溫目標(biāo)。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的溫度通常從0℃至100℃可調(diào)節(jié)，但范圍可擴展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面（從50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的發(fā)射器，高達(dá)1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應(yīng)用的單獨模塊提供。

Inframet可以提供高達(dá)500x500mm的發(fā)射面的TCB黑體（型號TCB-2oD）。但是，應(yīng)該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2OD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。 光電系統(tǒng)應(yīng)用于科研，守護安全的技術(shù)盾牌。平行光管光電測試系統(tǒng)品牌

MAB黑體是在整個太赫茲和亞太赫茲頻譜帶中商用的并且具有高發(fā)射率的大面積寬帶黑體。此黑體已經(jīng)由Inframet研究團隊進(jìn)行了幾年的實驗研究。

主要特性

寬泛的頻譜范圍涵蓋了THz和亞THz頻帶；大面積高達(dá)1mx1m；Thz/亞THz波段的高發(fā)射率；大面積輻射面上具有良好的熱均勻性；高溫度分辨率1mK和溫度穩(wěn)定性10mK；高速，易于PC控制；緊湊可靠的設(shè)計（黑體與控制器集成）。

在國際市場提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優(yōu)化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標(biāo)：約1μm至約15μm。 這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現(xiàn)。 平行光管光電測試系統(tǒng)品牌應(yīng)用于半導(dǎo)體檢測，明策光電技術(shù)領(lǐng)航行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

這些黑體的設(shè)計基于針對THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對不同的光譜帶進(jìn)行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測試/校準(zhǔn)太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統(tǒng)中的參考源的理想選擇。

MAB黑體有一系列的版本。有三個重點參數(shù)指標(biāo)：黑體發(fā)射面的大小、光譜帶和溫度范圍。發(fā)射面尺寸由黑體代碼表示：MAB-XD其中X是發(fā)射器的平方近似尺寸，單位為英寸。

通常提供以下型號：MAB-6D，MAB-12D，MAB-16D，MAB-2OD，MAB-24，MAB-50?？梢钥闯?，MAB黑體提供大至1000x1000mm的發(fā)射器（型號MAB-50D）。MAB黑體可針對不同的光譜范圍進(jìn)行優(yōu)化：A-從0.1mm到1mm（0.3-3THz）；B-從0.5mm到4mm（75GHz-1.5THz）；C-從2mm到10mm（30GHz-150GHz）；D-從0.5mm到10mm（30GHz-1.5THz）；E-從0.5mm到30mm（10GHz-1.5THz）；ka-從7.5mm到1.1mm（26.5-40GHz）。

DTR短焦熱像儀測試系統(tǒng)是傳統(tǒng)DT熱像儀測試系統(tǒng)的一個特殊版本。這兩個系統(tǒng)都是將一系列的標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)投影出去，被測熱像儀接收成像。DT系統(tǒng)使用了較長焦距和大孔徑的離軸反射式光管，而DTR系統(tǒng)則使用較短焦距和小孔徑的透射式光管。因此，相同的紅外靶標(biāo)由DTR系統(tǒng)投射后，被測熱像儀接收的圖像比由DT系統(tǒng)透射出的要更大。從數(shù)學(xué)上講，DTR系統(tǒng)可以投射出比典型DT系統(tǒng)空間頻率要低幾倍的4桿靶圖像。

DTR測試系統(tǒng)在測試過程中，被測熱像儀的奈奎斯特空間頻率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(熱像儀的探測器像元尺寸17um，物鏡焦距0.68mm)，可滿足市場上大多數(shù)大視場熱像儀的測量需求。另外DTR測試系統(tǒng)提供2個不同焦距和視場的光管供選擇，可根據(jù)被測熱像儀的分辨率和視場來選擇適用的光管。通常DTR測試系統(tǒng)提供測試長波熱像儀的配置，可選配測量中波熱像儀。 光電測試，守護食品安全，提升檢測標(biāo)準(zhǔn)。

一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者M(jìn)TB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標(biāo)也可用于測量。測量成像整機系統(tǒng)軸校準(zhǔn)：電控的測試系統(tǒng)生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對準(zhǔn)：計算機控制的測量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進(jìn)行激光測距儀發(fā)射光軸的校準(zhǔn)。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統(tǒng)軸的能力。測量SWIR相機：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標(biāo)；測量不同圖像格式的熱像儀：當(dāng)采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。Inframet OPO 望遠(yuǎn)瞄準(zhǔn)測試系統(tǒng)，提升電子產(chǎn)品生產(chǎn)線質(zhì)量控制。平行光管光電測試系統(tǒng)品牌

JT400多傳感器軸對準(zhǔn)測試系統(tǒng)，保障電子元件性能穩(wěn)定。平行光管光電測試系統(tǒng)品牌

可見光靶標(biāo)主要分為兩類：A)反射式靶標(biāo)，B）透射式靶標(biāo)。反射式靶標(biāo)無法提供高精度的靶標(biāo)圖形因此只能用于可見光成像系統(tǒng)簡單的評估測試。透射式靶標(biāo)的精度可以達(dá)到次微米級，通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶標(biāo)，其具備很好的通用性，既支持低分辨率相機測試，也同時支持高分辨率相機測試。

產(chǎn)品參數(shù)：

參數(shù)：數(shù)值

圖案類型：3桿

圖案組數(shù)：0到7(可選0-8)

空間頻率范圍：1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)

對比度：百分之二到100%

基板：鈉鈣玻璃(可選石英)

圖形鍍膜：鉻

靶標(biāo)板尺寸：23x23mm 平行光管光電測試系統(tǒng)品牌